ARM

 

JEOL JEM ARM 200F

Das ARM 200F ermöglicht durch die Korrektur der sphärischen Aberration (Cs) des Kondensorsystems eine Abbildung und chemische Charakterisierung auf der atomaren Skala. Hauptanwendungsgebiete sind daher die Charakterisierung von Dünnschichtsystemen und Phasengrenzen, wie auch höchstaufgelöste chemische Untersuchungen mittels EELS und EDX.

zurück

 
JEOL JEM ARM 200F
JEOL JEM ARM 200F
Installation: 2011
Auflösung: 0.8 Å (STEM)
1.9 Å (TEM, 200kV)
Ausstattung:
  • Feldemissionskathode (Schottky)
  • Cs-Korrektor (Kondensorsystem)
  • EELS-Detektor (Gatan Enfina)
  • EDX-Detektor (JED 2300T, JEOL)
  • DF, HAADF, BF, ABF
  • Stabilisierter Be-Doppelkipphalter
  • Einfachkipphalter
  • Feldkompensation