Details und Hersteller
Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-7600F und Focused Ion-Beam (FIB) Mikroskop JIB 4600F
Kontakt
EMC_DA_Start – Geomaterialwissenschaft – TU Darmstadt (tu-darmstadt.de)
Institut für Angewandte Geowissenschaften
Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-7600F und Focused Ion-Beam (FIB) Mikroskop JIB 4600F
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